Basler SWIR視覺解決方案，讓不可見的細(xì)節(jié)盡在眼前

多年來，工業(yè)相機(jī)主要專注于可見光成像技術(shù)。短波紅外相機(jī)，簡稱SWIR相機(jī)，可顯露隱藏的特征。但想要找到既具有成本效益，又能為工業(yè)應(yīng)用量身定制的SWIR成像解決方案也并非易事。

今天，我們來為您介紹Basler SWIR相機(jī)解決方案，以及它所帶來的成像潛能。

什么是SWIR光譜？

光是一種電磁波，以其波長為特征, 光譜可分為多個光譜帶。可見光范圍是400nm至800nm，近紅外和短波紅外光范圍是從900nm到最高可達(dá)2500nm，并且人眼不可見。Basler新款ace 2 X visSWIR相機(jī)，搭載Sony SenSWIR感光芯片，可覆蓋400nm至1700nm的可見光和不可見光范圍。

適用于機(jī)器視覺的SWIR相機(jī)，利用SWIR的物理特性，可以實現(xiàn)新的成像場景。通過列舉幾個經(jīng)典的機(jī)器視覺應(yīng)用案例，我們一起來了解SWIR相機(jī)的亮點(diǎn)。

1.在SWIR范圍內(nèi)，硅會變得透明，因此，檢測半導(dǎo)體晶圓和太陽能電池板是其重要的應(yīng)用領(lǐng)域。使用SWIR光源照亮硅基晶圓或太陽能電池板，可顯露隱藏在表面下的微小缺陷和雜質(zhì)。

2.通常，SWIR可以穿透在可見光波長下不透明的涂層，這樣就能對底層特征可視化，例如查看液位水平，可區(qū)分顏色相似的不同材料。因此，非常適合對材料進(jìn)行無損識別和分揀。

3.在SWIR范圍內(nèi)，水具有很高的吸收性，這使得含水量高的物體或特征看起來幾乎為黑色，因此將此項方案應(yīng)用于水分檢測，可以助力食品質(zhì)量的控制。

以上是一些經(jīng)典的例子，這項技術(shù)為工業(yè)應(yīng)用帶來了無限的可能性。

為什么要選擇Basler SWIR視覺解決方案？

Basler積累了獨(dú)特的視覺專業(yè)知識，使Sony感光芯片技術(shù)大放異彩，為經(jīng)濟(jì)高效的SWIR成像解決方案提供了完美的切入點(diǎn)

。

我們還可以一站式提供所有組件，與傳統(tǒng)的SWIR相機(jī)相比，ace 2 X相機(jī)要小巧得多，截面尺寸僅為29 x 29 mm，備受市場認(rèn)可。

同時，這款相機(jī)提供GigE和USB 3.0接口，以滿足不同的應(yīng)用要求，ace 2 X相機(jī)與Basler SWIR光源和控制光源的Basler SLP控制器，是理想的套裝組合。

為了獲得出色的成像效果，應(yīng)使用濾光片來屏蔽不需要的光譜部分，InGaAs芯片的主要局限性在于它不可避免地存在像素缺陷和高噪聲等級的問題，Basler相機(jī)內(nèi)置獨(dú)特的Pixel Correction Beyond像素校正超越功能可增強(qiáng)SWIR圖像。Beyond像素校正超越功能可輕松檢測并最大限度地降低線性噪聲，還能動態(tài)減少圖像中的水平線。

通過Basler的解決方案，僅需非制冷型相機(jī)的價格，您就能獲得成像質(zhì)量可媲美制冷型相機(jī)且尺寸精巧的ace 2 X相機(jī)。

最后，您可以借助簡單易用的pylon軟件，盡情探索以上的特點(diǎn)以及其他相機(jī)功能，并直接通過相機(jī)采集出色的SWIR圖像，獲取卓越成效。