日本TAKEX竹中晶片映射傳感器ASW-SG625AP

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日本TAKEX竹中晶片映射傳感器ASW-SG625AP

產(chǎn)品概述：

?穩(wěn)定檢測SiC晶片、藍寶石晶片、硅晶片、半透明晶片等

?支持6812英寸晶片

?支持半透明晶片的檢測模式裝備( 812英寸用)

?防止梳部靜電破壞( 6812英寸用)

產(chǎn)品規(guī)格：

檢測對象：晶片種類6英寸晶片（透射率30%以下）

檢測通道數(shù)：25ch

間距：4.76mm

檢測方式：透過型

梳形部分：裝卸式

操作電源：DC12～24V±10%波紋10%以下

消耗電流：250mA以下

動作模式：暗開

異常輸出：異常時ON

輸出模式：NPN開路集電極輸出

額定：漏電流30A（DC30V）以下

響應時間：10ms以下

投光用光源（波長）：紅外LED（830nm）

投光停止輸入

再示教兼用：開路集電極輸入或接點輸入投光停止ON:1.5V以下OFF：4V以上

ON時停止投光

OFF時再次示教

輸出停止輸入：開路集電極輸入或接點輸入輸出停止ON:1.5V以下OFF：4V以上

連接方式：帶連接器的電線拉出式 3m

材質(zhì)：傳感器單元（梳）：聚碳酸酯、外殼：鋁

重量：約330g

附件：使用說明書

使用環(huán)境溫度：-10～＋55℃（未結冰）

使用環(huán)境濕度：35～85%RH（非冷凝）

保護結構：IP40

使用周圍照度：1500lx以下

耐振動：10～55Hz雙振幅0.5mmX、Y、Z方向各2小時

耐沖擊：300m/s2X、Y、Z方向各3次

相關型號：

ASW-SG85F

ASW-SG85F-Y05

ASW-SG86F

ASW-SG86F-Y05